絕緣電阻測(cè)試儀具體運(yùn)行原理

  通過(guò)根據(jù)當(dāng)前國(guó)際間制定的絕緣電阻測(cè)試相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，通常選用的電壓數(shù)值為直流 500V 或者 1000V。從而完成對(duì)于被側(cè)量物體的性能測(cè)試，之后針對(duì)經(jīng)過(guò)絕緣電阻測(cè)試的所得參數(shù)進(jìn)行評(píng)估。絕緣電阻測(cè)試可以較為直觀，針對(duì)被測(cè)試物品來(lái)實(shí)現(xiàn)直接的數(shù)值量化，從而有效直觀的將產(chǎn)品的具體制作工藝，以及制作材料的選用均可以通過(guò)直觀的測(cè)試結(jié)果得以反應(yīng)。在使用絕緣電阻測(cè)試儀完成測(cè)試的過(guò)程中，始終保持著一個(gè)測(cè)試原則，就是絕緣電阻的測(cè)試結(jié)果大小是隨著絕緣電阻的整體電阻數(shù)值變更從而轉(zhuǎn)變的。但是此種測(cè)試方法在使用過(guò)程中也是存在了一定的缺陷的，比如此種測(cè)試方法的使用通常會(huì)由于測(cè)試結(jié)果多次重復(fù)，從而導(dǎo)致電阻測(cè)試數(shù)值越高。通常在使用此種設(shè)備完成絕緣電阻的測(cè)試時(shí)，會(huì)受到較多的客觀性因素所造成的影響，此種情況的出現(xiàn)更是直接與設(shè)備自身存在一定的相關(guān)性。眾所周知，在絕緣電阻的測(cè)試開(kāi)展中，將電壓的數(shù)值為直流 500V 或者 1000V 情況下，也就是說(shuō)該產(chǎn)品的測(cè)試是一個(gè)直流耐壓的測(cè)試，測(cè)試設(shè)備在此種電壓的整體性測(cè)量情況，會(huì)出現(xiàn)電流的測(cè)量數(shù)值，之后經(jīng)由內(nèi)部線路完成電壓的計(jì)算，完成該電流數(shù)值的放大化顯示。*終通過(guò)利用歐姆定律 ：R=U/I，（U 代表電壓數(shù)值、I 代表電壓下漏掉電流）。通常情況下，根據(jù)絕緣電阻測(cè)試儀的相關(guān)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，我們得知此種情況下的耐壓電流通過(guò)長(zhǎng)較?。?1μA。由上述的絕緣電阻測(cè)試儀具體運(yùn)行概論及原理，發(fā)現(xiàn)此種測(cè)試方法的相關(guān)運(yùn)行原理，是基本等同于電壓的耐壓測(cè)試原理的。只是此種測(cè)試原理是通過(guò)歐姆定律的關(guān)系完成表述的，耐壓測(cè)試可以完成被測(cè)試物體的絕緣性能描述，絕緣電阻測(cè)試儀則主要經(jīng)由測(cè)試所得的電阻值完成相應(yīng)的描述。