高精度直流微電阻測(cè)試儀的研究與開發(fā)

    3. PCB板的繪制、制作及調(diào)試，特別是注重抗干擾設(shè)計(jì)，以期達(dá)到精度要求;
    4.熟悉嵌入式系統(tǒng)及芯片，用相應(yīng)的開發(fā)工具和調(diào)試工具實(shí)現(xiàn)嵌入式程序的編寫與仿真;
    5.硬件與軟件系統(tǒng)的綜合調(diào)試，用對(duì)各種標(biāo)準(zhǔn)為電阻來檢驗(yàn)測(cè)試儀誤差，對(duì)其進(jìn)行調(diào)理以達(dá)到預(yù)期目的。
1. 2. 4課題研究的目標(biāo)及預(yù)期的效果
    課題研究的目標(biāo)有:
    本測(cè)試儀的設(shè)計(jì)目標(biāo)是設(shè)計(jì)制作完成高性價(jià)比、速度快、成本低、精度高、測(cè)量范圍廣、體積小重量輕的微電阻直流測(cè)試儀。由于市場(chǎng)對(duì)于微電阻測(cè)試儀寬量程的需要，委托我們進(jìn)行產(chǎn)品研發(fā)的廠家要求將測(cè)量范圍進(jìn)行適當(dāng)?shù)募訉?，因此本測(cè)試儀的測(cè)量范圍確定為0. O1mS2-1. 9999kS2o
    通過對(duì)電流、電壓信號(hào)的**采集、濾波、放大、補(bǔ)償、A/D以及利用單片機(jī)對(duì)測(cè)量獲得的數(shù)字信號(hào)進(jìn)行存儲(chǔ)和顯示，達(dá)到快速測(cè)量微電阻的目的。深入分析并研究電路本身以及測(cè)量環(huán)境的外界各種干擾因素對(duì)測(cè)量的影響，以達(dá)到對(duì)微電阻的測(cè)量精度的要求。
    課題研究的預(yù)期成果有:
    2.在嵌入式開發(fā)工具上實(shí)現(xiàn)單片機(jī)C語言和匯編語言的編寫、調(diào)試與仿真;
    3.掌握高精度微弱信號(hào)的PCB板繪制、制作及調(diào)試。
    本儀器的適用對(duì)象:各種線圈的電阻，開關(guān)、插頭等儀器的接觸電阻，大截面導(dǎo)體電阻等。
    測(cè)試儀的參數(shù):
    測(cè)量范圍:
    電阻測(cè)量范圍為:0. O1mS2-1. 9999kS2
    電阻測(cè)量分為五個(gè)量程測(cè)試檔:
    量程1:  0. O l mS2-19 9. 9 9mS2
    量程2:  0. 1「mSZ-1. 999952
量程4:  1 Om!2-199. 9952
量程5:  1 OOr15Z-1. 9999kSZ
測(cè)量誤差:
工作環(huán)境:溫度為。0C-400C,濕度為《90}RH
工作誤差:
量程1, 2誤差為:士0. 4%讀數(shù)值士4個(gè)字
量程3,  4,  5誤差為:士0. 2%讀數(shù)值土4個(gè)字
數(shù)據(jù)輸出:
*小分辨率:10 }S2
電阻測(cè)量值輸出:六位LED數(shù)碼管、RS232
測(cè)量速度:2次/秒
    開機(jī)后預(yù)熱15分鐘;
    選擇適當(dāng)?shù)牧砍?
    儀器要先調(diào)零才能使用，調(diào)零時(shí)應(yīng)當(dāng)將測(cè)試夾短路。
1. 3本章小結(jié)